
イベント情報
2017年12月13日
SEMICON Japan 2017
会 期 | 2017年12月13日 ~ 2017年12月15日 |
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会 場 | 東京ビッグサイト 東3ホール(No.3325) |
イベントURL | http://www.semiconjapan.org/ |
SEMICON Japanは日本で唯一、半導体製造の前/後工程と製造技術、装備、材料をカバーする大規模な展示会です。
弊社では、世界初の最小可測粒径10 nmを達成した、超純水の粒子汚染を高感度で常時モニタリングできる液中パーティクルカウンター「走査型液中ナノパーティクルカウンター ScanningTPC Model 9010」はじめ、「LNS(Liquid Nanoparticle Sizer)」、「高精度希釈システム Model 9210」、質量分析器「infi-TOF」、各種気中パーティクルカウンターを展示し、皆さまのご来場をお待ち申し上げております。
■デモンストレーションと技術説明会
日時 12月14日午後4時~6時
場所 TFTビル(東京ファッションタウンビル)
所在地:東館 東京都江東区有明3丁目6番11号
http://www.bigsight.jp/facilities/tft/summary/
http://www.bigsight.jp/download/public/accessWalk_tft.pdf
ゆりかもめ 国際展示場駅に隣接しています。(東京ビックサイトの反対側)
研修室902(東館9F)
弊社主対応者:
Mr.Derek Oberreit PhD
Vice President R&D
Kanomax FMT, Inc.
1.技術説明会
題名:スキャニングTPCの最新評価について(仮称)
内容:スキャニングTPCの計測データ評価に関する最新情報をご提供します。
また質疑応答。
2.製品デモンストレーション (予定)
次の製品のデモンストレーションを実施いたします。
①Spot Sampler + NanoParticle Nebulizer(NPN)
Spot Samplern改良版をご紹介いたします。
ノズル形状の変更による粒子の沈着位置の均一化、またSEM試料板の寸法変更な
どによりUPWを対象としたサンプリング性能を向上させました。
②Liquid Nanoparticle Sizing(LNS) System
液中ナノパーティクルサイザーシステム
カノマックスのエアロゾル計測技術を駆使した新商品で5~600nmの範囲で液中の粒径分布測定が行なえます。
半導体スラリーを初めとした幅広いアプリケーションに対応できます。
尚、デモンストレーション終了後に簡単な軽食をご準備いたします。
皆様のご参加をお待ち申し上げております。
■デモンストレーションと技術説明会
日時 12月14日午後4時~6時
場所 TFTビル(東京ファッションタウンビル)
所在地:東館 東京都江東区有明3丁目6番11号
http://www.bigsight.jp/facilities/tft/summary/
http://www.bigsight.jp/download/public/accessWalk_tft.pdf
ゆりかもめ 国際展示場駅に隣接しています。(東京ビックサイトの反対側)
研修室902(東館9F)
弊社主対応者:
Mr.Derek Oberreit PhD
Vice President R&D
Kanomax FMT, Inc.
1.技術説明会
題名:スキャニングTPCの最新評価について(仮称)
内容:スキャニングTPCの計測データ評価に関する最新情報をご提供します。
また質疑応答。
2.製品デモンストレーション (予定)
次の製品のデモンストレーションを実施いたします。
①Spot Sampler + NanoParticle Nebulizer(NPN)
Spot Samplern改良版をご紹介いたします。
ノズル形状の変更による粒子の沈着位置の均一化、またSEM試料板の寸法変更な
どによりUPWを対象としたサンプリング性能を向上させました。
②Liquid Nanoparticle Sizing(LNS) System
液中ナノパーティクルサイザーシステム
カノマックスのエアロゾル計測技術を駆使した新商品で5~600nmの範囲で液中の粒径分布測定が行なえます。
半導体スラリーを初めとした幅広いアプリケーションに対応できます。
尚、デモンストレーション終了後に簡単な軽食をご準備いたします。
皆様のご参加をお待ち申し上げております。