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レーザ干渉画像法粒子計測システム（ILIDS)
特徴
シート状のレーザ光を噴霧に照射し、各液滴方面からの反射光と内部屈折光の位相差をＣＣＤカメラにより画像（干渉縞画像）として検出し、粒子径を計測するシステムです。２画面の情報からＰＴＶ計測により各粒子の速度を求めることが出来ます。ＰＤＰＡが点計測なのに対し、本手法は面計測手法であり、面内の各粒子について粒子径、速度、位置の解析が出来ます。また特殊光学系による画像圧縮を行い、各粒子の干渉画像のオーバーラップを極限まで抑えることにより高濃度のアプリケーション適用が可能となっています。
（特許：Pat3211825,US6,578,208,B2）

■装置構成は、画的速度分布計測法PIVとほぼ同じ構成で計測できます。

■粒子の散乱光が作る干渉縞から粒子径を算出します。

■粒子像を一方向に圧縮する事で、高濃度の計測が可能となりました。

■光透過性の球形粒子（液滴、気泡）に適用できます。

■ダブルパルス法を用い、粒径、輝度、干渉パターン情報からPTV解析を可能とします。




従来の干渉画像法では困難な高濃度条件において、　
特殊光学系を用い、一方向に圧縮する事で粒子像が分離され計測が可能となります。　


仕様
　ILIDS 改良型干渉画像法
(CCDカメラで撮影した粒子の径と速度の分布　を同時計測します)
　計測対象 透明粒子（多少の汚れは可能）,気泡
　出力情報 粒子径分布,速度分布,速度-粒子径相関各種　統計量
　適用粒子径 10μm〜1mm
　適用速度 Max　100m/s以上
　計測視野 4×4mm〜10×10mm
（広い視野も設定可能）
　濃度条件 〜40,000個/cm3
　機器構成 ダブルパルスNd：YAGレーザ（15mJ/pulse）、高解像度CCDカメラ（1280×1024pixel, 12bit）、パルスジェネレータ、PC、計測ソフトウェア


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