イベント情報

2017年12月13日 イベント

SEMICON Japan 2017

会 期 2017年12月13日(水) ~ 2017年12月15日(金)
会 場 東京ビッグサイト 東3ホール(No.3325)
内 容
SEMICON Japanは日本で唯一、半導体製造の前/後工程と製造技術、装備、材料をカバーする大規模な展示会です。
 
弊社では、世界初の最小可測粒径10 nmを達成した、超純水の粒子汚染を高感度で常時モニタリングできる液中パーティクルカウンター「走査型液中ナノパーティクルカウンター ScanningTPC Model 9010」はじめ、「LNS(Liquid Nanoparticle Sizer)」、「高精度希釈システム Model 9210」、質量分析器「infi-TOF」、各種気中パーティクルカウンターを展示し、皆さまのご来場をお待ち申し上げております。

■デモンストレーションと技術説明会
日時 12月14日午後4時~6時
 
場所 TFTビル(東京ファッションタウンビル)
所在地:東館 東京都江東区有明3丁目6番11号
http://www.bigsight.jp/facilities/tft/summary/
http://www.bigsight.jp/download/public/accessWalk_tft.pdf
ゆりかもめ 国際展示場駅に隣接しています。(東京ビックサイトの反対側)
研修室902(東館9F)
 
弊社主対応者:
Mr.Derek Oberreit PhD
Vice President R&D
Kanomax FMT, Inc.
 
1.技術説明会
 題名:スキャニングTPCの最新評価について(仮称)
 内容:スキャニングTPCの計測データ評価に関する最新情報をご提供します。
    また質疑応答。
 
2.製品デモンストレーション (予定)
 次の製品のデモンストレーションを実施いたします。
 
①Spot Sampler + NanoParticle Nebulizer(NPN)
 Spot Samplern改良版をご紹介いたします。
ノズル形状の変更による粒子の沈着位置の均一化、またSEM試料板の寸法変更な
どによりUPWを対象としたサンプリング性能を向上させました。
 
②Liquid Nanoparticle Sizing(LNS) System
  液中ナノパーティクルサイザーシステム
カノマックスのエアロゾル計測技術を駆使した新商品で5~600nmの範囲で液中の粒径分布測定が行なえます。
半導体スラリーを初めとした幅広いアプリケーションに対応できます。
 
尚、デモンストレーション終了後に簡単な軽食をご準備いたします。
 
皆様のご参加をお待ち申し上げております。

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